產(chǎn)品分類
產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
平行平晶 平面平晶 卡尺 游標(biāo)卡尺 單向爪數(shù)顯卡尺 數(shù)顯卡尺 游標(biāo)卡尺 電子卡尺 千分尺 外徑千分尺 三爪內(nèi)徑千分尺 百分表 千分表 量塊 塊規(guī) 比較樣塊 粗糙度比較樣塊 平行平晶 平面平晶
詳情介紹：
平行平晶
簡介
平行平晶具有兩個（或一個）光學(xué)測量平面的正圓柱形或長方形的量規(guī)。光學(xué)測量平面是表面粗糙度數(shù)值和平面度誤差都極小的玻璃平面，它能夠產(chǎn)生光波干涉條紋（見激光測長技術(shù)）。平晶有平面平晶和平行平晶兩種。平面平晶用于測量高光潔表面的平面度誤差，為用平面平晶檢驗量塊測量面的平面度誤差。平行平晶的兩個光學(xué)測量平面是相互平行的，用于測量兩高光潔表面的平行度誤差，例如千分尺兩測量面的平行度誤差.平晶用光學(xué)玻璃或石英玻璃制造。圓柱形平面平晶的直徑通常為 45～150毫米。其光學(xué)測量平面的平面度誤差為:1級精度的為0.03～0.05微米；2級精度的為0.1微米。常見的長方形平面平晶的有效長度一般為200毫米。
平行平晶：是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的誤差。平行平晶據(jù)有高精度的平面性和平行性。
具體規(guī)格：
每組平行平晶共四塊，分四個尺寸系列組
測量面上平面度偏差： <0.1μm
平面度局部偏差： >0.03μm
測量面平行度誤差： 組Ⅰ系列允差值：0.06μm
組Ⅱ、Ⅲ系列允差值：0.08μm
組Ⅳ系列允差值：0.1μm
測量面上平面度偏差： <0.1μm
平面度局部偏差： >0.03μm
測量面平行度誤差： 組Ⅰ系列允差值：0.06μm
組Ⅱ、Ⅲ系列允差值：0.08μm
組Ⅳ系列允差值：0.1μm
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組Ⅰ
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平行平晶
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0－25mm
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4塊/組
|
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組Ⅱ
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平行平晶
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25－50mm
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4塊/組
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組Ⅲ
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平行平晶
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50－75mm
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4塊/組
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組Ⅳ
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平行平晶
|
75－100mm
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4塊/組
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平行平晶尺寸系列表
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組號
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0－25
|
25－50
|
50－75
|
75－100
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1
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15.00，15.12
15.25，15.39 |
40.00，40.12
40.25，40.37 |
65.00，65.12
65.25，65.37 |
90.00，90.12
90.25，90.37 |
|
2
|
15.12，15.25
15.37，15.50 |
40.12，40.25
40.37，40.50 |
65.12，65.25
65.37，65.50 |
90.12，90.25
90.37，90.50 |
|
3
|
15.25，15.37
15.50，15.62 |
40.25，40.37
40.50，40.62 |
65.25，65.37
65.50，65.62 |
90.25，90.37
90.50，90.62 |
|
4
|
15.37，15.50
15.62，15.75 |
40.37，40.50
40.62，40.75 |
65.37，65.50
65.62，65.75 |
90.37，90.50
90.62，90.75 |
|
5
|
15.50，15.62
15.75，15.87 |
40.50，40.62
40.75，40.87 |
65.50，65.62
65.75，65.87 |
90.50，90.62
90.75，90.87 |
|
6
|
15.62，15.75
15.87，16.00 |
40.62，40.75
40.87，41.00 |
65.62，65.75
65.87，66.00 |
90.62，90.75
90.87，91.00 |
